為了進(jìn)行可視化并得到特征的定量信息，成像系統(tǒng)須具備的成像襯度。即便面對具有挑戰(zhàn)性的材料，如低原子序數(shù)材料、軟組織、聚合物、包裹在琥珀中的化石生物以及其它低襯度材料等，蔡司Xradia Versa都可以提供靈活、高襯度的成像結(jié)果。

我們的綜合解決方案采用了專屬的吸收襯度增強探測器，盡可能地吸收低能量光子，同時盡可能地少吸收降低圖像襯度的高能量光子，從而為您提供擁有出色襯度的成像結(jié)果。此外，可調(diào)節(jié)的傳播相位襯度技術(shù)通過探測經(jīng)過材料后產(chǎn)生折射的X 射線光子信號，可顯示出那些吸收襯度很低甚至沒有吸收襯度的特征。

蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均與“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan） 控制軟件無縫整合在一起，提供一個的工作流程境，讓您能夠輕松定位到感興趣區(qū)域和選擇掃描參數(shù)。對那些使用者經(jīng)驗水平各不相同的中心實驗室用戶來說，這款簡潔易用的系統(tǒng)可謂是理想的選擇。

蔡司提供兩種形式的DeepRecon 技術(shù)——1) DeepRecon Pro 和2) DeepRecon Custom——兩者
都利用人工智能以出色的速度提供令人驚艷的圖像質(zhì)量。

將蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中，
來拓展更多的實驗可能性。為了繼續(xù)幫助突破科學(xué)進(jìn)步的界限，蔡司Xradia Versa 已成功設(shè)計出業(yè)內(nèi)的三維原位成像解決方案，適用于從高壓流體驅(qū)替、拉伸、壓縮裝置和熱臺等多種多樣的原位裝置。

您可以為所有的蔡司Xradia Versa 儀器選配原位接口套件，包括機(jī)械集成套件、堅固耐用的布線導(dǎo)槽和其它設(shè)施（饋入裝置），以及基于測試規(guī)程的軟件，它能夠簡化蔡司“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan）用戶界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上體驗原位裝置高水平的穩(wěn)定性、靈活性和集成控制，得益于其光學(xué)架構(gòu)設(shè)計，在變化的環(huán)境條件下不會犧牲分辨率。